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http://cio.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1002/675| INTERFEROMETRÍA ELECTRÓNICA DEL PATRÓN DE MOTEADO CON SENSIBILIDAD EN PLANO PARA EL ANÁLISIS DE ESFUERZOS MECÁNICOS Y MEDICIÓN DE TOPOGRAFÍA USANDO LUZ DIVERGENTE | |
| Jorge Ramon Parra-Michel | |
| Amalia Martinez-Garcia | |
| Acceso Abierto | |
| Atribución-NoComercial-SinDerivadas | |
| ANÁLISIS DE ESFUERZOS, TEORÍA ELÁSTICA, ESPI, DEFORMACIONES, DESENVOLVIMIENTO DE FASE | |
| "Los nuevos materiales utilizados en la ingeniería como los plásticos, metales, cerámicas, materiales compuestos, entre otros, necesitan ser analizados extensamente para obtener sus propiedades mecánicas. Normalmente los especímenes utilizados en las pruebas de laboratorio tienen formas bien conocidas con el fin de simplificar y reducir las variables involucradas en el estudio de su comportamiento mecánico cuando se someten a tensiones. Realizar mediciones en elementos mecánicos con forma irregular complica enormemente el análisis de sus propiedades mecánicas. La técnica de interferometría electrónica del moteado es utilizada como una herramienta para el análisis del campo de deformación o para cuantificar propiedades mecánicas de los materiales, así como evaluar la topografía de objetos. También nos permite verificar diseños de elementos mecánicos obtenidos a través de simulaciones como la técnica de análisis por elemento finito. Un parámetro importante a considerar cuando se utiliza la técnica de interferometría electrónica del moteado para la medición del campo de desplazamiento o de la topografía de superficies es el cálculo del vector de sensibilidad. El vector de sensibilidad está en función de la posición de las fuentes de iluminación y de la topografía del objeto. El vector de sensibilidad es constante en el caso de iluminación colimada no así en el caso de iluminación divergente. Dada la ventaja del uso de la iluminación divergente respecto a que se utiliza para iluminar superficies grandes, se calcula el vector de sensibilidad para el caso de iluminación divergente en la evaluación de la topografía de objetos grandes. Dado que el vector de sensibilidad depende de la topografía se propone un algoritmo basado en la técnica de Gauss-Seidel para la obtención de la forma del objeto. También se muestra una comparación entre los diferentes filtros pasa bajos para la reducción del ruido causado por el efecto del moteado. Finalmente se muestra como se utiliza la técnica de Monte Carlo para calcular la incertidumbre estándar en las mediciones de topografía y del campo de deformación." | |
| 2011-02 | |
| Tesis de doctorado | |
| Español | |
| León, Guanajuato | |
| Público en general | |
| Parra Michel, (2011). "Interferometría electrónica del patrón de moteado con sensibilidad en plano para el análisis de esfuerzos mecánicos y medición de topografía usando luz divergente". Tesis de Doctorado en Ciencias (Óptica). Centro de Investigaciones en Óptica, A.C. León, Guanajuato. 140 pp. | |
| LUZ | |
| Versión publicada | |
| publishedVersion - Versión publicada | |
| Aparece en las colecciones: | DOCTORADO EN CIENCIAS (ÓPTICA) |
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