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Buscar por Autor EDGAR ENRIQUE CAMPS CARVAJAL
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Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
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13-dic-2012 | Polarimetric Characterization of Bismuth Thin Films Deposited by Laser Ablation | Artículo | RAFAEL ESPINOSA LUNA; EDGAR ENRIQUE CAMPS CARVAJAL; DAGOBERTO CARDONA RAMIREZ; ELDER DE LA ROSA | - |
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