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Fecha de publicaciónTítuloTipo de publicación/ Tipo de recursoAutor(es)Fecha de depósito
13-dic-2012Polarimetric Characterization of Bismuth Thin Films Deposited by Laser AblationArtículoRAFAEL ESPINOSA LUNA; EDGAR ENRIQUE CAMPS CARVAJAL; DAGOBERTO CARDONA RAMIREZ; ELDER DE LA ROSA-