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INTERFEROMETRÍA ELECTRÓNICA DE MOTEADO Y DESPLAZAMIENTO DE FASE EN EVENTOS DINÁMICOS PARA EL ANÁLISIS DE LA DEFORMACIÓN UNIAXIAL EN PROBETAS METÁLICAS SOLDADAS
Jorge Ramon Parra-Michel
Amalia Martinez-Garcia
Acceso Abierto
Atribución-NoComercial-SinDerivadas
ESPI, MÉTODO DE FOURIER, SIMULACIÓN NUMÉRICA, ELEMENTO FINITO, PROCESAMIENTO DIGITAL DE IMÁGENES
"El estudio de la mecánica ha existido desde la antigüedad y a acompañado al hombre a través de su evolución. Una de las preocupaciones de los primeros constructores era el utilizar las herramientas y los materiales adecuados para los fines que buscaban. Los ingenieros se vieron obligados a caracterizar los materiales, entre ellos los metales para la construcción adecuada y eficiente de sus máquinas y herramientas; así surgió la necesidad de crear métodos y sistemas que revelaran estas características y propiedades. La interferometría electrónica de patrones de moteado, ESPI (acrónimo de Electronic Speckle Pattern Interferometry) nos sirve como herramienta para el estudio de las propiedades mecánicas de los metales y otros materiales. La utilización de la luz con alta coherencia espacial y temporal (propiedades de la luz láser) nos permite crear interferómetros que aprovechan el fenómeno de destrucción y amplificación de las ondas electromagnéticas cuando se sobreponen, creando franjas obscuras y brillantes que son utilizadas como un patrón de referencia para las mediciones cuando se observan en el medio que se quiere caracterizar. El objetivo de este trabajo es mostrar una técnica basada en ESPI para evaluar a través del tiempo la deformación uniaxial en probetas soldadas y mostrar la importancia de considerar las soldaduras cuando el diseñador mecánico evalúa los esfuerzos en elementos mecánicos."
2006-12
Tesis de maestría
Español
León, Guanajuato
Público en general
Parra Michel, (2006). "Interferometría Electrónica de moteado y desplazamiento de fase en eventos dinámicos para el análisis de la deformación uniaxial en probetas metálicas soldadas". Tesis de Maestría en Ciencias (Óptica). Centro de Investigaciones en Óptica, A.C. León, Guanajuato. 86 pp.
LUZ
Versión publicada
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Aparece en las colecciones: MAESTRIA EN CIENCIAS (ÓPTICA)

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